蔡司 O-INSPECT 蔡司 O-INSPECT

蔡司 O-INSPECT

时间:2024-05-26 栏目:产品中心 浏览:17
蔡司 O-INSPECT
蔡司 O-INSPECT

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应用范围:ZEISS O-INSPECT 光学与接触式测量的巧妙结合  ZEISS O-INSPECT  ZEISS O-INSPECT复合式测量机能够通过光学或接触式测量获取每一项特征,且符合ISO-10360验收标准。  您将受益于:  视野范围大,提供良好的图像质量  快速精准的3D接触式测量  敏感表面的光学测量  在更短的时间内提高可靠性  出色的光学器件  视野范围大  良好的图像质

ZEISS O-INSPECT

 光学与接触式测量的巧妙结合

  ZEISS O-INSPECT

  ZEISS O-INSPECT复合式测量机能够通过光学或接触式测量获取每一项特征,且符合ISO-10360验收标准。

  您将受益于:

  视野范围大,提供良好的图像质量

  快速精准的3D接触式测量

  敏感表面的光学测量

  在更短的时间内提高可靠性

  出色的光学器件

  视野范围大

  良好的图像质量

  ZEISS Discovery.V12来源于蔡司显微镜解决方案技术。与常规镜头相比,此镜头提供四倍更大观察视野,使镜头周边区域亦可确保出色的图像质量。优点:减少测量时间并具有稳定的精度。

  更优对比度

  ZEISS O-INSPECT照明系统

  为了获得精确的测量结果,需要高对比度的图像。为此,ZEISS O-INSPECT配备了一套多功能的照明系统。迥然不同的形状、纹理和表面颜色可采取不同入射角的方式,让边缘显得清晰可见。

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